EMI測定システムについて
EMC試験は複数台の測定器をリアルタイムに制御し、必要なデータを取得し、さらにはデータを解析、レポートにまとめるという作業が必要となります。
特にEMI(エミッション)測定は膨大なパラメータとデータの塊を扱う必要があるため、試験の効率向上と解析の容易さはお客様の製品開発や品質管理のコスト削減に大きく貢献します。
弊社ではお客様のニーズに合った自動計測システムをご提案致します。
■一般的なエミッション自動計測システム
システム設計例
※測定システムはお客様の試験仕様に合わせて設計させて頂きます。
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主な仕様 |
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事例:コンパクトエミッション複合システム
特徴 :省スペースで設計対策が全て完了できるオールインワンシステム
試験環境 :超小型シールドルーム 1.5×1.5×2.5m(H)
周波数範囲 :9 kHz〜1 GHz
試験可能項目 :雑音端子電圧・近傍電磁界測定・放射エミッション測定
測定器 :スペクトラムアナライザ
雑音端子電圧 :9 kHz〜30 MHz(CISPR 16準拠LISN使用)
近傍電磁界測定 :9 kHz〜1 GHz(電界・磁界プローブ使用)
放射エミッション測定:30 MHz〜1 GHz(超小型バイコニカルアンテナ使用)
EUTテーブル :木製試験台(オプション)
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設計対策向け簡易測定キット
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主な仕様 |
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エミッション測定の基本パッケージ
パッケージ内容:
測定環境 :シールドテント(遮蔽性能代表値70dB)
スペクトラムアナライザ :9 kHz〜1.5 GHz
バイコニカルアンテナ :25 MHz〜300 MHz
ログペリオディックアンテナ:300 MHz〜1 GHz
近傍界プローブセット :磁界・電界
始業点検用コムジェネレータ:5 MHz〜1.5 GHz
広帯域プリアンプ :ゲイン32 dB・1 MHz〜1 GHz(バッテリー駆動)
擬似電源回路網(LISN) :単相250 VAC/20 A/150 kHz〜30 MHz
アンテナマスト
※1GHz以上の測定器も追加可能です。
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